ME100DS-PIM是一款针对IGBT/SiC模块/衬板量产端动静态一体ATE测试设备，该设可以帮助功率模块厂家进行量产动态，静态参数测试筛选，支持两站并行测试；同时可以选配UIS，R_gC_g，绝缘等测试功能，支持自动化一站式测试解决方案。

1、同时覆盖 IGBT、SiC MOSFET、衬板的静态参数和动态参数测试

• 静态参数，系统最大可提供 2000V，2000A 测试能力；动态参数，系统最大可提供 1200V，4000A，12000A（SC） 测试能力。

2、动静态一体机，两站并行测试，高UPH

• 支持双站并行测试，可提高UPH，两站并行测试UPH高达400（基于IGBT六单元模块）。

3、专有短路保护装置，拓宽测量范围，快速保护被测对象及设备

• 设备内置专有短路保护装置，短路保护电流：12000A。短路保护时间：1.5μs。有回路设计，寄生电感低至15nH。

4、支持与多种 Handler、探针台配合，支持自定义产线一站式测试解决方案

• 同一平台覆盖 Module、DBC、Die、Wafer 测试，可为用户提供更多测试选择。支持 Hard Docking，可提高产线量产的自动化测试水平。