ME400D-SE是一款针对IGBT，SiC MOSFET，GaN分立器件研发及应用端动态特性测试评估的设备，该设备可以帮助分立器件开发厂家进行器件性能摸底，快速输出规格书及测试报告，同时可以帮助分立器件应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。

1、全范围动态特性参数测试

• 支持Si、SiC、GaN开关特性、反向恢复特性、反偏安全工作区、短路、雪崩、Q_g、R_DS(on)等测试项目。

2、业内首推高低温测试方案

• 支持集成高低温系统，实现分立器件的-40~200℃结温的动态特性测试，高温有保护，低温无冷凝。

3、栅极参数自匹配系统

• 可实现V_DC、I_C、T_Vj、V_GE、R_G(on)、R_G(off)、C_GE自动调整，自动测试，快速拟合功率器件输出特性曲线和匹配出功率系统适配的栅极参数。

4、DPowerTest测试软件

• 支持单双脉冲、RBSOA、短路、并联均流、窄脉冲等测试项目，架构上支持测试流程自定义、测试标准自定义、报告生成、UI上看波形细节、支持个人PC安装运行等。

5、便捷的操作平台

• ME400D-SE通过模块化设计，在小机型上提供900*640*670mm操作平台，可实现工装快插、快速搭建加热环境、低温环境测试，操作效率提升一倍以上。